Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Strickland N.M., Huang Y., Xia J.A.(j.xia@irl.cri.nz), Long N.J., Hoefakker P., Talantsev E.F.
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, coated conductors, MOD process, defects, critical current density, angular dependence, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.